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하이테크·반도체·통신

산업별 솔루션

칩에서 기기까지 신호·열·신뢰성 통합 검증

5G·6G RF 설계, 고속 디지털 SI/PI, 반도체 패키지·3D IC 열·기계 신뢰성, 모바일 기기 낙하와 발열, 실리콘 포토닉스까지 하이테크 분야 Ansys 해석 구성과 반도체·전자 제조 공정 시뮬레이션을 안내합니다.

하이테크·반도체·통신
Overview

개요

하이테크 제품은 집적도와 동작 주파수가 높아질수록 전자기, 열, 기계적 문제가 서로 얽힙니다. 고속 인터페이스의 신호 손실과 크로스토크, 전원 노이즈, 칩렛·HBM 같은 첨단 패키지의 휨(warpage)과 솔더 접합 피로, 얇은 기기의 낙하 충격과 표면 온도 제한은 모두 설계 마진을 줄이는 요인입니다.

Ansys는 HFSS·SIwave·Q3D Extractor 기반 RF·SI/PI·기생 성분 해석, Icepak 전자 냉각, Mechanical 패키지 휨·열응력 해석, Sherlock 신뢰성 예측, Lumerical 포토닉스, Zemax OpticStudio 카메라 광학 설계를 제공합니다. 솔더 리플로우, 와이어 본딩, CVD, CMP 등 반도체·전자 제조 공정 시뮬레이션도 지원합니다.

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Challenges

핵심 과제

01고주파 RF·안테나 통합

mmWave 대역에서는 패키지·기구와 안테나가 성능에 직접 영향을 주므로 모듈 단위의 3D 전자기 해석이 필요합니다.

02고속 신호·전원 무결성

PCIe, DDR 등 고속 인터페이스는 삽입 손실, 반사, 크로스토크, PDN 임피던스를 동시에 관리해야 합니다.

03첨단 패키지 열·기계 신뢰성

3D IC·HBM 적층 구조는 열 집중과 재료 간 열팽창 차이로 휨, 범프 균열, 솔더 피로가 발생하기 쉽습니다.

04소형 기기 낙하·발열

스마트폰·웨어러블은 낙하 충격 내성과 표면 온도 한계를 좁은 공간 안에서 동시에 만족해야 합니다.

Ansys Solutions

Ansys로 이렇게 해결합니다

01RF·안테나·모듈 해석

HFSS로 안테나, 필터, 패키지 인터커넥트의 S-파라미터와 방사 특성을 해석하고 위상배열·안테나 인 패키지 구조를 검증합니다.

02SI/PI·기생 성분 추출

SIwave로 PCB·패키지의 PDN 임피던스, DC IR 드롭, 신호 채널을 분석하고 Q3D Extractor로 RLGC 기생 성분을 추출합니다.

03전자 냉각·전기-열 연성

Icepak으로 칩·보드·함체 수준 열유동을 해석하고 SIwave 전력 손실 맵을 연계해 국부 발열을 정확히 반영합니다.

04패키지·보드 신뢰성

Mechanical로 리플로우 휨과 열응력을, Sherlock으로 열 사이클·진동에 따른 솔더 피로 수명을 예측하고 LS-DYNA로 낙하 충격을 검증합니다.

05포토닉스·카메라 광학

Lumerical로 실리콘 포토닉스 소자를, Zemax OpticStudio로 모바일 카메라 렌즈 성능과 공차를 설계합니다.

Manufacturing Process Simulation

제조 공정 시뮬레이션

설계뿐 아니라 제조 공정 자체를 시뮬레이션으로 검증·최적화해 수율과 품질을 높입니다.

솔더 리플로우·BGA 접합패키지 휨(warpage)·열처리와이어 본딩·몰드 플로우언더필 디스펜싱열압착 웨이퍼 본딩Thermal·Plasma Enhanced CVD 반응기 설계화학기계연마(CMP)스핀 코팅·회전 습식 세척웨이퍼 연삭·레이저 다이싱전기 도금·식각 공정
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해석 목적과 예산만 알려주시면 제품 구성 · 에디션 · HPC · 워크스테이션까지 맞춤 견적서로 회신해 드립니다.